江蘇chroma安規(guī)綜合測試儀回收 

江蘇chroma安規(guī)綜合測試儀回收

東莞市諾展電子儀器有限公司

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江蘇chroma安規(guī)綜合測試儀回收

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1.收購對(duì)象：各種閑置高頻通信測試儀器，如HP/Agilent、TEK、ANRITSU 等品牌示波器、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、綜合測試儀、信號(hào)源、功率計(jì)、電源、天饋線分析儀、功率計(jì)、LCR表、GPIB卡等。
2.收購方式：整廠或單臺(tái)回收；
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Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機(jī)10通道輸

出可達(dá)成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時(shí)間及人力成本。

繞線元件的測試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測試、IR絕緣電阻測試、繞線元件脈沖測試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測試整合于19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測試，讓繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在

品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

線圈自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測試制程中加入線圈層間短路測試，即可多組繞組一次掃描測試完成，進(jìn)一步

的提升繞線元件品質(zhì)。

19036結(jié)合層間短路測試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(Flutter)及波形二階微分偵測(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測方法。

19036專利設(shè)計(jì)四線直流電阻量測接口，包含Drive 與 Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不良而導(dǎo)致測試失敗的問題。

馬達(dá)測試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測試的使用者，高功率的耐壓測試與其他安規(guī)測試整合于一臺(tái)綜合測試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來最大的效益

，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

量測技術(shù)

耐壓測試 ‑ FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡(luò)偵測 ARC 
19036 與Chroma 其他安規(guī)測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因 高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形 成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品 傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須

以測試電 壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測 為高壓測試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。

江蘇chroma安規(guī)綜合測試儀回收
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