PEC4000 光電催化IPCE測(cè)試裝置 

_{PEC4000 光電催化IPCE測(cè)試裝置}

PEC4000系列光電化學(xué)反應(yīng)裝置。依托可選擇的多光譜光源和各種光電化學(xué)池，與電化學(xué)工作站聯(lián)用將光電化學(xué)反應(yīng)輸出至電化學(xué)工作站，以進(jìn)行光電化學(xué)反應(yīng)的科學(xué)研究。 如研究分子或離子在激發(fā)態(tài)時(shí)的氧化還原反應(yīng)現(xiàn)象、規(guī)律及應(yīng)用；研究光直接影響電極過程的電化學(xué)、光能與電能和化學(xué)能的轉(zhuǎn)換測(cè)量；光電化學(xué)電池的光電轉(zhuǎn)化測(cè)量；光電化學(xué)合成和富集。由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)的靈活性，可與大多數(shù)主流電化學(xué)工作站聯(lián)用，光源可選，光譜范圍從紫外、可見到紅外（UV-VIS-IR），從而可作為光電化學(xué)反應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)使用，適合光致電化學(xué)分析法和光電化學(xué)電池性能的研究。

     而紫外-可見光譜電化學(xué)技術(shù)是將紫外-可見光譜和電化學(xué)相結(jié)合起來同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的方法。
紫外-可見光譜法是基于分子內(nèi)電子躍遷產(chǎn)生的吸收光譜進(jìn)行分析，其吸收與電子結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)，研究對(duì)象大多是具有共軛雙鍵結(jié)構(gòu)的分子。該方法具有靈敏度高、準(zhǔn)確度好、選擇性佳、操作簡(jiǎn)便、分析速度快、應(yīng)用廣泛等特點(diǎn)。將它與電化學(xué)方法聯(lián)用，在進(jìn)行電化學(xué)研究的同時(shí)，可以獲得反應(yīng)物、中間體以及產(chǎn)物的大量信息，很大程度上促進(jìn)了電化學(xué)研究在分子水平上的發(fā)展。
    可以應(yīng)用在太陽(yáng)能電池 (如燃料敏化太陽(yáng)能電池)，半導(dǎo)體材料 ，光誘導(dǎo)的化學(xué)反應(yīng)，也可以應(yīng)用在:（1）瞬時(shí)化學(xué)組分或平衡光譜的測(cè)量；（2）電活性物質(zhì)還原電位的測(cè)定；（3）電化學(xué)動(dòng)力學(xué)的測(cè)量；（4）電極/溶液界面上的電荷傳遞過程研究。

由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)的靈活性，可與大多數(shù)主流電化學(xué)工作站聯(lián)用，光源可選，光譜范圍從紫外、可見到紅外（UV-VIS-IR）的復(fù)合光源，也可以選用可調(diào)單色光源或者單色LED光源，適合光致電化學(xué)分析法和光電化學(xué)電池性能的研究。

^{系統(tǒng)組成}

^{光源、反應(yīng)池、電化學(xué)工作站、光學(xué)暗室，選配：光功率計(jì)、單色儀和光譜儀。}

^{產(chǎn)品特點(diǎn)}

^{全譜A級(jí)光譜匹配太陽(yáng)模擬光源；}

^{分光系統(tǒng)，消多級(jí)光譜，單色光純度更高；}

^{為光譜電化學(xué)設(shè)計(jì)全新光學(xué)系統(tǒng)；}

^{電化學(xué)工作站與光譜分析儀器一體式結(jié)構(gòu)整合，人性化設(shè)計(jì)；}

^{配備光功率計(jì)，可測(cè)單色光能量密度；}

^{匹配光譜電化學(xué)研究的專用電解池及電極；}

^{獨(dú)立開發(fā)光譜電化學(xué)應(yīng)用軟件，操作更方便，功能更易擴(kuò)展}

^{本儀器也可獨(dú)立作為電化學(xué)工作站使用}  

^{測(cè)試項(xiàng)目}

^{Fill factor:光電池填充因子效率。IMPS: 強(qiáng)度調(diào)制光電流譜。CIMPS：可控強(qiáng)度調(diào)制光電流譜。IMVS： 強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜 。CIMVS：可控強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜。IPCE:  光電轉(zhuǎn)換效率。PVI： 光致電流電壓特性。PCS： 光電流譜。CTF： 交叉?zhèn)鬏敼δ苎芯�。IPCE:  轉(zhuǎn)化效率。透射和吸收研究（以上方法均可用于調(diào)制單色光）。其他常規(guī)的電化學(xué)方法，恒電位技術(shù)：開路電位&時(shí)間測(cè)量曲線、單電位階越計(jì)時(shí)電流法、雙電位階越計(jì)時(shí)電流法、單電位階越計(jì)時(shí)電量法、雙電位階越計(jì)時(shí)電量法、恒電位電解庫(kù)侖分析法；線性掃描技術(shù)：線性掃描伏安法、循環(huán)伏安法、塔菲爾（Tafel）曲線測(cè)量、線性掃描溶出伏安法；脈沖技術(shù)：微分脈沖伏安法、微分脈沖溶出伏安法；方波技術(shù)：方波伏安法、方波溶出伏安法(EIS，CV等所有電化學(xué)功能)。}

^{技術(shù)參數(shù)：}