直流I-V特性分析SMU源表
概述:直流I-V特性分析SMU源表國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),性價(jià)比高,測(cè)試范圍更廣,輸出電壓高達(dá)300V,支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出報(bào)告,符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求,可及時(shí)與客戶溝通,為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案
一、源表定義
“源表”又稱“數(shù)字源表”、“源測(cè)量單元”,是一種可編程控制,作電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,并同步測(cè)量和IV掃描的通用儀表。
二、源表特點(diǎn):
多功能:可作源和負(fù)載,又能測(cè);
高效率:滿足多種測(cè)試需求;
可編程控制:高精度可調(diào),靈活控制;
IV掃描:快速、直觀顯示,一步操作。
三、應(yīng)用領(lǐng)域:
分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;
能量與效率特性測(cè)試,LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測(cè)試,電阻率、霍爾效應(yīng)等
有機(jī)材料特性測(cè)試,電子墨水、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測(cè)試,石墨烯、納米線等
四、測(cè)試功能:
微電路 |
||
1 |
晶圓 |
L-IV測(cè)試,輸入曲線、輸出曲線 |
2 |
芯片 |
L-IV測(cè)試,輸入曲線、輸出曲線 |
器件 |
||
1 |
二極管 |
正向?qū)妷骸⒄螂娏、反向擊穿電壓、反向漏電? |
2 |
三極管 |
L-IV測(cè)試,輸入曲線、輸出曲線 |
3 |
MOSFET |
L-IV測(cè)試,輸入曲線、輸出曲線 |
4 |
IGBT |
L-IV測(cè)試,輸出曲線、轉(zhuǎn)移曲線 |
5 |
晶閘管 |
正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線、觸發(fā)特性 |
電池 |
||
1 |
鋰電池 |
IV測(cè)試,充放電掃描曲線 |
2 |
光伏電池 |
IV測(cè)試,放電掃描曲線 |
材料 |
||
1 |
石墨烯 |
IV測(cè)試、輸入曲線、輸出曲線 |
2 |
納米線 |
IV測(cè)試、輸入曲線、輸出曲線 |
五、S系列源表特點(diǎn):
1、5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
2、內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,加速用戶完成測(cè)試,如LIV、PIV
3、源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%,分辨率5數(shù)位
4、四象限工作(源和肼),源及測(cè)量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V
5、豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
6、支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
7、支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
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