TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測(cè)試儀 

概述:北京華瑞森科技GR200熱釋光探測(cè)器(熱釋光劑量片) GR200熱釋光探測(cè)器(熱釋光劑量片):探測(cè)對(duì)象:X、γ射線  ◆ 成分:LiF(Mg,Cu,P) ◆ 形狀:圓片(另有方片、粉末可選) ◆
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日本TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測(cè)試儀,TSS-5X遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器

 

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司中國區(qū)域總代理:日本TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測(cè)試儀也稱為TSS-5X紅外線放射率測(cè)試器,遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀,本測(cè)量器可以用非常簡單且高精度的方式,測(cè)量在常溫中的各種材料的表面發(fā)射率。

TSS-5X-3遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀,TSS-5X-3遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器,遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀早已經(jīng)由材料科研單位、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的單位采用。 廣泛用于紅外材料測(cè)量。

 

日本TSS-5X-3遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀應(yīng)用:

 

1、在機(jī)器的熱設(shè)計(jì)中必須使用的零件的發(fā)射率測(cè)量;

2、藉由放射溫度計(jì)的測(cè)量物體來補(bǔ)正放射率;

3、各種零件的加工/處理前后的發(fā)射率比較;

4、其他、從零件的放射率求取物體本身的發(fā)射率等;

5、材料科學(xué)院、實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域必須的檢測(cè)分析設(shè)備。

 

日本TSS-5X-3遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀產(chǎn)品構(gòu)成:

1.紅外線照射源

藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐,在材料中集中照射。

2.紅外線檢驗(yàn)素子

從材料反射出的能量的一部分,射進(jìn)半球面黒體爐的頂點(diǎn)的小孔,用一定比率做檢驗(yàn)。

注:比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來決定。

3.發(fā)射率演算回路

從反射能量檢驗(yàn)器的輸出,演算試料的發(fā)射率。

注:材料的反射率和發(fā)射率的關(guān)系式如下:r εε=1-r

4.放射率表示値的校正

用發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片(ε=0.06與0.94)做校準(zhǔn).

測(cè)量原理:利用恒溫放射的遠(yuǎn)紅外線發(fā)射源,將能量照射后計(jì)算所反射的能量。

測(cè)量波長:2-22μm

測(cè)量范圍:0.00-1.00

額定精度:±0.01

測(cè)量面積:Φ15mm

測(cè)量距離:12mm(固定探頭的腳柱部)

被測(cè)物溫:10-40℃(室溫)

輸  出:0-0.1V,0-1V(滿載)

使用溫度:10-45℃

使用濕度:35-85%RH(未結(jié)露、霜之狀態(tài))

使用電源:AC100V ±10%,50/60Hz

外型尺寸:探頭Φ51X137mm(0.5Kg)    

主機(jī):H170X W306xD230mm(5Kg)

配件:發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片0.94、0.06各一片。

 

代理商:

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司

Beijing Huaruison Technology Development Co.Ltd.,

北京華睿志達(dá)科技發(fā)展有限公司

Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,

TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測(cè)試儀
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