無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀 

概述：[中介]產(chǎn)品介紹 HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇�、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。

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產(chǎn)品介紹


HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇�、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。





無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)


■ 測(cè)試范圍廣，低阻可測(cè)至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測(cè)至100ohm.cm


■ 產(chǎn)品體積小，便于移動(dòng)和攜帶


■ 采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率


■ 無(wú)接觸、無(wú)損傷快速測(cè)試


■ 測(cè)試前無(wú)需表面處理


■ 特別對(duì)于多晶，能夠有效避免晶界對(duì)測(cè)試的影響


■ 測(cè)試范圍：0.001-100 ohm.cm (分段測(cè)試）


■ 可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能


■ 可進(jìn)行溫度和厚度的修正


無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)


■   硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm


■   最小測(cè)試厚度：200μm


■   測(cè)量時(shí)間：2秒/次


■   最小測(cè)試面積：30x30 mm2


■   推薦使用溫度：20℃


■   濕度：≤80%


■   氣壓：86-106kPa


■   使用電壓：230±10V


■   頻率，50±3Hz


■   功率消耗：≤5W

尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
[本信息來(lái)自于今日推薦網(wǎng)]
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