科研院所專用高溫阻斷測試系統(tǒng) 

概述: 系統(tǒng)概述: 交流阻斷(或反偏)耐久性試驗是在一定溫度下,對半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時間,從而對器件進行質(zhì)量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。
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系統(tǒng)概述:

      交流阻斷(或反偏)耐久性試驗是在一定溫度下,對半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時間,從而對器件進行質(zhì)量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。
      一般情況下,此項試驗是對器件在結(jié)溫(Tjm ℃)和規(guī)定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下,進行規(guī)定時間的試驗,并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù),確認是否通過, 同時獲取相關(guān)試驗數(shù)據(jù)。
      該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC標準試驗要求?晒┌雽(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置,作交流阻斷(或反偏)耐久性/ 篩選試驗。能滿足IGBT進行高溫反偏耐久性試驗、高溫漏電流測試(HTIR)和老煉篩選。

漏電流保護回路:

      在每一試品試驗回路中都配置有0.1A的保險絲,當(dāng)試品在試驗期內(nèi)發(fā)生劣化或突然擊穿或轉(zhuǎn)折,保險絲將熔斷,設(shè)備面板上的相應(yīng)工位的氖燈點亮示警,同時蜂鳴器報警提示。

試驗電壓保護回路:

      試驗電壓由衰減板衰減取樣后反饋到控制單元,通過峰保器輸出與電壓設(shè)定值比較,當(dāng)試驗電壓高于電壓保護設(shè)定值時,過壓報警器響,同時保護繼電器動作切斷高壓輸出。

高壓回路:

      由電源開關(guān)、控制繼電器、自藕調(diào)壓器、高壓變壓器、波形變換電路組成,產(chǎn)生規(guī)定的試驗電壓并通過組合高壓線排,接入試品工位。

               技術(shù)指標:

試驗電壓 

VDRM.VRRM/VRRM   300V ~ 4000V  連續(xù)可調(diào), 50HZ工頻

試驗電流

IDRM.IRRM/IRRM   1.0 mA ~200.0mA

試驗溫度

溫度范圍:室溫~150℃;溫度均勻性125℃±3℃;
溫度波動度±0.5℃

試驗工位 

10工位

試驗容量

80×16=1280位

加電方式

器件試驗參數(shù)從器件庫中導(dǎo)入,ATTM自動加電試驗方式,可單通道操作;老化電源可根據(jù)設(shè)定試驗電壓和上電時間程控步進加載






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